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[Point=10]17. 增值的MSA审核 ISO/TS16949:2002的7.6.1条的“测量系统分析”中指出“为分析每种测量和试验设备系统得出的结果中出现的变差,应进行统计研究。此要求应适用于控制计划中提及的测量系统。所用的分析方法及接受准则应符合顾客关于测量系统分析的参考手册的要求。如果得到顾客的批准,也可以使用其他分析方法和接受准则”。
17.1. 审核MSA的基础: 17.1.1. 主要针对过程特殊特性,是否为一直在测量的变量。 17.1.2. 影响质量的测量系统常见的统计特性: a. 稳定性。 b. 偏倚。 c. 线性。 d. 重复性 e. 再现性。
17.2. 测量系统是否满足测量过程的需要: 17.2.1. 测量系统是否具有所需要的统计特性。 17.2.2. 环境因素是否对测量系统有显著影响。
17.3. 验证测量系统被认可的、持续具有的统计特性。 17.3.1. 通常首先验证重复性和再现性。 17.3.2. 必要时验证其他统计特性。
17.4. 审核MSA是否分清测量系统误差的来源: a. 分辨力。 b. 精密度。 c. 重复性。 d. 准确度。 e. 偏差。 f. 损坏。 g. 不同仪器与夹具间的差异。 h. 不同测量人员的差异。 i. 再现性。 j. 不同测量方法造成的差异。 k. 不同的测量环境造成的差异。
17.5. 是否通过运用统计分析方法进行测量系统分析: 是否通过运用统计分析方法进行测量系统分析,确定测量结果的变差(即测量误差),了解变差的来源,从而确定一个测量系统的质量,并且为测量系统的改进提供信息。 17.5.1. 计量型数据控制图。 17.5.2. 计数型数据控制图。
17.6. 是否正确地选择监视、测量设备: 176.1. 选择监视、测量设备的量程和分辨力。 176.2. 是否有可能将计量型数据转化为计数型数据,然后选择适当的监视、测量设备。
17.7. 增值的MSA审核的结果: 17.7.1. 促进测量值反映真实值的误差最小。 17.7.2. 改善测量成本。 17.7.3. 提高测量人员的技能。 [/Point][此帖子已经被作者于[lastedittime]1253263562[/lastedittime]编辑过] |